產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀
SDS1122E+鼎陽(yáng)SDS1122E+數(shù)字示波器
UT89X/UT89XD優(yōu)利德UT89X/D系列專業(yè)NCV數(shù)字式萬用表
UTG932/UTG962優(yōu)利德UTG932/UTG962函數(shù)任意波形發(fā)生器
E8900A德力 5G NR 信號(hào)分析儀
UT890C/D/C+/D+優(yōu)利德UT890C/D/C+/D+數(shù)字萬用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數(shù)字示波器
ME-2SYQ-2型淬火介質(zhì)冷卻特性測(cè)試儀
UTP1306S優(yōu)利德UTP1306S系列直流穩(wěn)壓電源
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號(hào)示波器
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規(guī)測(cè)試儀
UTD7072BG/UTD7102BG優(yōu)利德UTD7072BG/UTD7102BG數(shù)字存儲(chǔ)示波器
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計(jì)
UT582/UT585/UT586/UT582+優(yōu)利德UT582/UT585/T586漏電保護(hù)開關(guān)測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心測(cè)試系統(tǒng)
product
產(chǎn)品分類
致茂Chroma 58620 激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī) 全自動(dòng)化檢測(cè)邊射型激光半導(dǎo)體芯片 高精密及高容量載具設(shè)計(jì) 自動(dòng)光纖耦合測(cè)試對(duì)位設(shè)計(jì)（Auto-alignment） AOI輔助定位，加速測(cè)試時(shí)間 共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測(cè)試
更新時(shí)間：2024-11-29
產(chǎn)品型號(hào)：58620
瀏覽量：906
致茂Chroma 7940 晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 可同時(shí)檢測(cè)正反兩面晶圓 大可檢測(cè)6吋擴(kuò)膜晶圓（檢測(cè)區(qū)域達(dá)8吋范圍 ） 可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測(cè)項(xiàng)目 上片后晶圓自動(dòng)對(duì)位機(jī)制
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：7940瀏覽量：1215
Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-L光電組件晶圓LIV點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-N光電組件近場(chǎng)量測(cè)點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-F光電組件遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè)點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：58635-L/N/F瀏覽量：1347
54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：54100/54130/54180瀏覽量：1041
致茂Chroma 58212-C LED電性測(cè)試系統(tǒng) 高速高精度 橫向、垂直和倒裝芯片 寬功率測(cè)試范圍（高達(dá)200 V/2A） 高達(dá)8英寸的晶片 Chroma巨型光電探測(cè)器
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：58212-C瀏覽量：1045